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          基礎(chǔ)信息Product information

          產(chǎn)品名稱:數(shù)字源表

          產(chǎn)品型號(hào):美國吉時(shí)利 2400-C

          產(chǎn)品簡介:

          美國吉時(shí)利 2400-C 帶接觸檢測(cè)的通用數(shù)字源表
          吉時(shí)利SourceMeter?()系列是專為那些要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能,要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。所有源表均由一個(gè)精密的、低噪聲、高穩(wěn)定的帶回讀功能的直流電源和一個(gè)低噪聲、高重復(fù)性、高輸入阻抗的5?位多功能表組成,形成了緊湊的單通道直流參數(shù)測(cè)試儀。

          產(chǎn)品特性Product characteristics

           

          美國吉時(shí)利 2400-C 帶接觸檢測(cè)的通用數(shù)字源表

           

          吉時(shí)利SourceMeter®(數(shù)字源表)系列是專為那些要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能,要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。所有源表均由一個(gè)精密的、低噪聲、高穩(wěn)定的帶回讀功能的直流電源和一個(gè)低噪聲、高重復(fù)性、高輸入阻抗的5½位多功能表組成,形成了緊湊的單通道直流參數(shù)測(cè)試儀。其功能相當(dāng)于電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表的綜合體。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車與醫(yī)療行業(yè)的元件與模塊制造商都將發(fā)現(xiàn),源表儀器對(duì)于各種特征分析與生產(chǎn)過程測(cè)試都實(shí)用價(jià)值。

           

          2400-C型是一種功率為20W的儀器,能夠提供并測(cè)量從±5μV(源)和±1µV(測(cè)量)到±200V的直流電壓,以及從±10pA到±1A電流。它非常適合于測(cè)試各種器件,包括二極管、電阻、電阻網(wǎng)絡(luò)、有源電路保護(hù)器件,以及便攜式電池供電設(shè)備和元件。它也可以用作系統(tǒng)電源和 IDDQ 測(cè)試應(yīng)用。這種接觸檢查功能能夠在開始一個(gè)自動(dòng)測(cè)試序列之前,在 350µs內(nèi)輕松驗(yàn)證測(cè)試連接情況,從而實(shí)現(xiàn)了zui大的測(cè)試功能。這就消除了由于接觸不良、磨損、玷污、松動(dòng)或連接斷開、中繼失效等問題導(dǎo)致的測(cè)量錯(cuò)誤和虛假產(chǎn)品失效

          * 在350µs之內(nèi)就可以完成接觸檢測(cè)驗(yàn)證與報(bào)告,有利于保持高速生產(chǎn)效率

          • * 可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測(cè)操作
          • * 內(nèi)置的“源存儲(chǔ)器”可編程序列發(fā)生器zui多可存儲(chǔ)100個(gè)不同的測(cè)試,以滿足高速生產(chǎn)的需要
          • * 高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì),為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
          • * 內(nèi)置的比較器簡化了 pass/fail測(cè)試
          • * 數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手
          • * 0.012%的精確度,5½的分辨率
          • ?器件:
          • 離散半導(dǎo)體器件
          • 無源器件
          • 暫態(tài)抑制器件
          • IC、RFIC、MMIC
          • 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測(cè)器
          • 電路保護(hù)器件:
          • TVS、MOV、熔絲
          • 安全氣囊
          • 連接器、開關(guān)、繼電器
          • 測(cè)試:
          • 漏流
          • 低壓、電阻
          • LIV
          • IDDQ
          • I-V特征分析
          • 隔離與軌跡電阻
          • 溫度系數(shù)
          • 正向電壓、反向擊穿、漏電流
          • 直流參數(shù)測(cè)試
          • 直流電源
          • HIPOT
          • 介質(zhì)耐受性

           

           

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